NAOC Open IR
应用高频多普勒方法对耀斑期间电离层TEC变化的估算
王家龙1; 萧佐2; 张东和2; 高玉芬3
1999
Source Publication空间科学学报
ISSN0254-6124
Volume019Issue:004Pages:315
Abstract通过分析前人对耀斑期间电离层各区域电子密度的变化情况,总结了一个应用耀斑期间的高频多普勒扰动记录估算出层总电子含量变化的方法,并应用这一方法计算了1990年3-6月几次耀斑引起的低电离层总电子含量的变化,同时还与各耀斑对应的最大流量密度进行了比较,并对两者之间的相关情况进行了分析。
Language英语
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.bao.ac.cn/handle/114a11/51777
Collection中国科学院国家天文台
Affiliation1.中国科学院国家天文台
2.北京大学
3.中国地震局地球物理所
First Author AffilicationNational Astronomical Observatories, Chinese Academy of Sciences
Recommended Citation
GB/T 7714
王家龙,萧佐,张东和,等. 应用高频多普勒方法对耀斑期间电离层TEC变化的估算[J]. 空间科学学报,1999,019(004):315.
APA 王家龙,萧佐,张东和,&高玉芬.(1999).应用高频多普勒方法对耀斑期间电离层TEC变化的估算.空间科学学报,019(004),315.
MLA 王家龙,et al."应用高频多普勒方法对耀斑期间电离层TEC变化的估算".空间科学学报 019.004(1999):315.
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